微孔探头极片迂曲度均匀性测试设备-西湖未来智造

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微孔探头极片迂曲度均匀性测试设备

ET-MP100-S03

设备介绍

基于电化学阻抗谱（EIS）技术，通过分析不同频率下的电化学响应，实现锂离子电池极片迂曲度分布与均匀性的快速无损测量，适用于电池极片相关科研开发、生产质控及材料评估等多种应用场景

设备优势

支持多工况测试与一站式数据管理，确保迂曲度测试结果可追溯

参数工单配置后，可一键启动自动测试，实时显示数据与图谱

支持单点/连续测试、恒温/恒压、控温/控压等多种模式

集成驱动、压力感测、微孔探头、温控及抽气注液等多个模块

设备参数

温度控制范围：-30 ℃~50 ℃ ± 1 ℃

应力控制范围：0~2.5 MPa

测试频率：10000 Hz~0.01 Hz

扰动电压：0~10 mV

采点频率：5~10 Hz

X / Y / Z定位精度：±0.02 mm

行程范围：X / Y：±100 mm；Z：±100 mm

应用案例

测试工况：对同一极片进行同一位置的连续测试
测试结果：表征电池极片浸润特性

测试工况：对同一极片进行同一位置的不同应力条件下的测试
测试结果：表征应力参数对极片性能的影响

测试工况：对同一极片进行不同点位上的测试
测试结果：表征同一极片不同位置的均匀一致性

联系方式

电话：0571-87895092

业务洽淡：sales@enovate3d.com

更多合作：contact@enovate3d.com

地址：浙江省杭州市滨江区西兴街道联慧街6号

解决方案

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